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臺(tái)式掃描電鏡在觀察照射物體的細(xì)電子束掃描時(shí)，觀察的三維結(jié)構(gòu)的表面（形狀）。一般來(lái)說(shuō)，用掃描電鏡是一個(gè)單向觀察圖像，使圖像是相同的圖像平面與單眼觀察。為了得到一個(gè)三維圖像，該方法是通過(guò)傾斜的載體，從不同的角度分別獲得同等的右眼和左眼觀察觀察靜止圖像（視差圖像）和合成，所以戴上紅藍(lán)眼鏡。但這種方法需要時(shí)間，也需要調(diào)整視差圖像，所以它不能實(shí)時(shí)觀察樣品的掃描電鏡圖像。這時(shí)發(fā)達(dá)的邊緣交換機(jī)照射試樣的電子束角和高速掃描技術(shù)，成功實(shí)現(xiàn)了左右視差圖像瞬時(shí)訪問(wèn)。具體做法使用電磁透鏡的會(huì)聚作用，...

X射線衍射儀XRD是傳統(tǒng)X射線粉末衍射儀的優(yōu)化版，通過(guò)成熟的工藝技術(shù)，配合LaueCamera801/802，可實(shí)現(xiàn)對(duì)單晶樣品的高精度測(cè)量。X射線衍射儀XRD的信號(hào)檢測(cè)系統(tǒng)常用的X射線衍射信號(hào)檢測(cè)手段如下：1.熒光板熒光板是將ZnS、CdS等熒光材料涂布在紙板上制成，當(dāng)X射線信號(hào)照射到熒光板上時(shí)，熒光板就會(huì)發(fā)出熒光。常用熒光板來(lái)確認(rèn)光源產(chǎn)生的原射線束的存在，主要用于儀器零點(diǎn)的調(diào)試。2.照相方法照相法是早使用的檢測(cè)并記錄X射線的方法，直到現(xiàn)在仍被采用。X射線與可見(jiàn)光一樣，能夠使...

微觀觀測(cè)的發(fā)展產(chǎn)生了掃描電鏡，掃描電鏡將微觀世界的清晰度從“標(biāo)清”調(diào)到了“超清”，解決了地質(zhì)微觀領(lǐng)域的瓶頸?，F(xiàn)階段掃描電鏡在巖石學(xué)、礦物學(xué)、古生物學(xué)、礦石加工和回收利用、石油與天然氣等領(lǐng)域已經(jīng)成為一項(xiàng)*的科研“利器”。掃描電鏡的日常養(yǎng)護(hù)規(guī)定：1.保持儀器操作臺(tái)面整潔，不允許身體倚靠，冷水機(jī)等裝置不可放置重物；2.開(kāi)機(jī)時(shí)一定要先開(kāi)水冷系統(tǒng)，并要檢查冷卻水的溫度，關(guān)機(jī)至少15分鐘后才能關(guān)閉冷卻水；3.進(jìn)樣品時(shí)，檢查Z軸和T軸的位置.緩緩關(guān)閉樣品室，確保進(jìn)樣倉(cāng)門(mén)*關(guān)閉，才可進(jìn)行抽氣...

早期的臺(tái)式電鏡僅可以分析直徑不超過(guò)25mm的樣品，但是新型臺(tái)式電鏡能夠容納直徑達(dá)60mm、高度達(dá)45mm的樣品，并允許操作人員控制樣品臺(tái)的移動(dòng)和旋轉(zhuǎn)。這些特征使臺(tái)式電鏡的分析范圍更廣，可獲取高分辨率圖像，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、納米顆粒、制藥、生物醫(yī)學(xué)、食品藥品、紡織纖維、地質(zhì)科學(xué)等諸多領(lǐng)域。臺(tái)式電鏡還可以被用來(lái)分析半導(dǎo)體及電子產(chǎn)品中的各種成分，并可以進(jìn)行生命科學(xué)樣品各種特征的研究；還可以用在科學(xué)館，中小學(xué)校教育機(jī)構(gòu)等領(lǐng)域。臺(tái)式電鏡的應(yīng)用領(lǐng)域逐漸變得越來(lái)越多?；蛟S剛剛開(kāi)始使用臺(tái)式...

臺(tái)式電鏡主要用于各類(lèi)微觀樣品表面形貌、組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行快速檢測(cè)以及其元素成份分析，具有高低真空成像模式?？蓪?duì)金屬和其他導(dǎo)體以及作導(dǎo)電噴涂處理后的樣品采用高真空模式成像。對(duì)未經(jīng)導(dǎo)電噴鍍處理的非導(dǎo)電樣品可進(jìn)行原始狀態(tài)下的觀察，并保持樣品的原始形貌，得到真正的表面形貌。對(duì)含水量較高的樣品，可以在冷凍輔助下觀測(cè)形貌。配備能譜分析，可以對(duì)微區(qū)元素定性定量分析。配備離子濺射儀，可滿足無(wú)導(dǎo)電物質(zhì)噴濺需求。臺(tái)式電鏡的制樣流程分析：一、觀察形貌的塊狀樣品制備清洗（干燥→吹掉浮粉）→固定→導(dǎo)電處理。...

場(chǎng)發(fā)射電鏡的電子發(fā)射源為冷場(chǎng)，物鏡為半浸沒(méi)式，可利用二次電子、背散射電子信號(hào)成像來(lái)觀察樣品表面形態(tài)。在高加速電壓下，二次電子圖像分辨率為1nm，背散射電子圖像分辨率3.0nm。在低加速電壓下，二次電子圖像分辨率為2nm，有利于觀察絕緣或?qū)щ娦圆畹臉悠?。?chǎng)發(fā)射電鏡配置的主要附件為X射線能譜儀，利用該附件可以在觀察樣品表面微觀形貌的同時(shí)進(jìn)行微區(qū)成分定性和半定量以及元素分布分析。針對(duì)不導(dǎo)電樣品，配置高分辨磁控離子濺射儀，可以準(zhǔn)確地為樣品噴鍍厚度均勻的導(dǎo)電膜，從而實(shí)現(xiàn)該類(lèi)樣品的電鏡分...

SEM掃描電鏡從原理上講，照明體系與透射電子顯微鏡中的類(lèi)似。但不一樣的是掃描電鏡有一些獨(dú)*需求，例如經(jīng)聚光鏡作用后抵達(dá)樣品處的電子束應(yīng)是直徑很細(xì)的電子探針；電子束能作掃描運(yùn)動(dòng)；末級(jí)聚光鏡的計(jì)劃應(yīng)便于信號(hào)的搜集等。SEM掃描電鏡的三類(lèi)電子講解：1.二次電子是指背入射電子轟擊出來(lái)的核外電子。由于原子核和外層價(jià)電子間的結(jié)合能很小，當(dāng)原子的核外電子從入射電子獲得了大于相應(yīng)的結(jié)合能的能量后，可脫離原子成為自由電子。如果這種散射過(guò)程發(fā)生在比較接近樣品表層處，那些能量大于材料逸出功的自由電...