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美國(guó)ISS是jin有的能同時(shí)提供時(shí)域TCSPC和數(shù)字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術(shù)解決方案的公司,其推出的FLIM熒光壽命成像及熒光波動(dòng)光譜升級(jí)模塊,可以讓您現(xiàn)有的共聚焦顯微鏡擁有FLIM及FCS測(cè)試功能,可適配各種顯微鏡。
ELIMISSION Z118快速LIBS光譜分析系統(tǒng)是目前市場(chǎng)上較常用的臺(tái)式LISB元素分析儀。*的平臺(tái)使其能夠滿(mǎn)足客戶(hù)對(duì)再現(xiàn)性、堅(jiān)固性、jing確性、準(zhǔn)確性和靈敏度的要求。它能夠直接分析固體樣品(例如鐵、鋁、巖石等),而不用機(jī)械加工樣品制備,以去除樣品的氧化層(如火花-OES的情況)。LIBS光譜分析是目前為止被認(rèn)為wei一可以做在線分析的元素分析技術(shù);
ELEMISSION MISSION激光誘導(dǎo)擊穿光譜生產(chǎn)線使用幾種高新技術(shù)以達(dá)到高吞吐量的化學(xué)分析過(guò)程。ELEMISSION MISSION LIBS激光誘導(dǎo)擊穿光譜快速產(chǎn)線分析系統(tǒng)符合精度、性能、吞吐流量和分析速度的*的市場(chǎng)標(biāo)準(zhǔn)。產(chǎn)品線能夠通過(guò)激光誘導(dǎo)擊穿光譜(LIBS)實(shí)時(shí)進(jìn)行快速元素分析,可用到回收,礦物篩選和土壤分析等。
ISS HPCell 光譜儀通用高壓樣品倉(cāng)系統(tǒng)包含壓力樣品倉(cāng),靜壓泵,控制系統(tǒng)以及數(shù)據(jù)采集模塊。整套系統(tǒng)可直接裝配于ISS公司的所有熒光光譜測(cè)試系統(tǒng)中,也可作為獨(dú)立附件適配于其他品牌的光譜儀系統(tǒng)。
半導(dǎo)體技術(shù)的一個(gè)重要目標(biāo)是減少所有構(gòu)成半導(dǎo)體器件中,晶體和非晶層中固有的和因生產(chǎn)工藝引起的缺陷。雜質(zhì)、晶界、晶面等引起的缺陷會(huì)導(dǎo)致陷阱的產(chǎn)生,陷阱可以俘獲自由電子和空穴。即使?jié)舛确浅5?,陷阱也能ji大地改變半導(dǎo)體器件的性能。數(shù)字化深能級(jí)瞬態(tài)譜儀DLTS是現(xiàn)在一種非常通用的技術(shù),可用于測(cè)定與陷阱相關(guān)的幾乎所有參數(shù),包括密度、熱界面(熱發(fā)射率)、能級(jí)和空間剖面等。
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